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簡要描述:光炎量子效率分析儀圖像傳感器測試儀是一個(gè)商用 CMOS 圖像傳感器測試儀。SG-A可以提供*的 CMOS 圖像傳感器參數(shù)表征,如全光譜量子效率 QE、整體系統(tǒng)增益 K、時(shí)間性暗噪聲、信噪比、靈敏度閾值、飽和容量、動(dòng)態(tài)范圍、DSNU、PRNU、線性誤差和射線角 CRA。
產(chǎn)品型號: SG-A
所屬分類:光焱量子效率測量系統(tǒng)
更新時(shí)間:2024-10-10
廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
品牌 | 其他品牌 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子 |
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SG-A光炎量子效率分析儀圖像傳感器測試儀是一個(gè)商用CMOS圖像傳感器測試儀。SG-A可以提供*的CMOS圖像傳感器參數(shù)表征,如全光譜量子效率QE、整體系統(tǒng)增益K、時(shí)間性暗噪聲、信噪比、靈敏度閾值、飽和容量、動(dòng)態(tài)范圍、DSNU、PRNU、線性誤差和射線角CRA。被測設(shè)備可以是幾種類型的CMOS圖像傳感器模塊。檢驗(yàn)程序符合 EMVA 1288 標(biāo)準(zhǔn)。因此,SG-A CMOS圖像傳感器測試儀可用于進(jìn)行晶圓級光學(xué)檢測、加工參數(shù)控制、微透鏡設(shè)計(jì)、微透鏡驗(yàn)證。SG-A CMOS圖像傳感器測試儀的高度準(zhǔn)直光束(<1°)可以克服傳統(tǒng)光學(xué)系統(tǒng)(如積分球系統(tǒng))無法解決的新制造工藝的檢測困難。這些工藝包括小像素(<1um)、BSI和3D堆疊、微透鏡、新的拜耳陣列設(shè)計(jì)等等。
SG-A光炎量子效率分析儀圖像傳感器測試儀特色:
無損光學(xué)檢測。
高度準(zhǔn)直梁角/高準(zhǔn)直波束角<0.05度,<0.1度,<0.5度,<1度,<3度(不同型號)
高均勻光束點(diǎn)≥99%。
光的不穩(wěn)定性≤1%。
高動(dòng)態(tài)范圍測試能力:80dB~140dB(不同型號)。
可以測試CMOS圖像傳感器參數(shù)。量子效率、光譜響應(yīng)、系統(tǒng)增益、靈敏度、動(dòng)態(tài)范圍、暗電流/噪聲、信噪比、飽和容量、線性誤差(LE)、DCNU(暗電流不均勻性)、PRNU(光響應(yīng)不均勻性)、CRA(射線角)。
全光譜波長范圍:300nm–1100nm或350nm~1000nm(PTC)。
波長可擴(kuò)展至1700納米以上。
DUT封裝:CIS模塊,PCB板級,CIS攝像頭,有/無微透鏡。
SG-A和DUT之間的“直接“或“握手“通信協(xié)議。
定制的測試夾具和平臺(手動(dòng)或自動(dòng),多6軸)。
強(qiáng)大的分析軟件ARGUS®。
應(yīng)用:指紋識別(CIS+鏡頭,CIS+準(zhǔn)直器,TFT陣列傳感器)CIS的微透鏡設(shè)計(jì),晶圓級光學(xué)檢測,CIS DSP芯片算法開發(fā),Si TFT傳感器面板,飛行時(shí)間相機(jī)傳感器,接近傳感器(量子效率,靈敏度,線性度,SNR等),d-ToF傳感器,i-ToF傳感器,多光譜傳感器,環(huán)境光傳感器(ALS),指紋顯示(FoD)傳感器。
規(guī)格:
SG-A型CMOS圖像傳感器測試儀的功能非常強(qiáng)大,因此相關(guān)的規(guī)格和配件也非常齊全。請與我們聯(lián)系,以了解更多細(xì)節(jié)和選擇咨詢,以下是主要的能力規(guī)格:
–全光譜的波長范圍:300–1100納米或350–1000納米(PTC)。
–波長范圍可以擴(kuò)展到1700納米或更高。
–單一波長源。470納米,530納米,630納米,940納米(±5納米)或自定義。
–動(dòng)態(tài)范圍:80dB、100dB或140dB。
–測試夾具:DUT≤100mmx100mmx30mm(高度)[基本型]或訂制。
–平臺:無,手動(dòng)3軸或6軸(手動(dòng)+自動(dòng))平臺(可訂制)
應(yīng)用范圍:
指紋識別(CIS+鏡頭,CIS+準(zhǔn)直器,TFT-陣列傳感器)
CIS的微透鏡設(shè)計(jì),晶圓級光學(xué)檢查
CIS DSP芯片的算法開發(fā)
Si TFT傳感器面板
飛行時(shí)間相機(jī)傳感器
近距離感應(yīng)器(量子效率、靈敏度、線性度、SNR等)
d-ToF傳感器,i-ToF傳感器
多光譜傳感器
環(huán)境光傳感器(ALS)
指紋顯示(FoD)傳感器